Artifact Analysis は、ソフトウェア構成分析、メタデータの保存、取得を提供するサービス ファミリーです。検出ポイントは、Artifact Registry や Google Kubernetes Engine(GKE)などの多数の Google Cloud プロダクトに組み込まれており、迅速に有効化できます。このサービスは、Google Cloud のファーストパーティ プロダクトと連携し、サードパーティのソースからの情報を保存することもできます。スキャン サービスは、一般的な脆弱性ストアを利用して、ファイルを既知の脆弱性と照合します。
このサービスは以前、Container Analysis と呼ばれていました。新しい名前は既存のプロダクトや API を変更するものではありませんが、コンテナ以外にも拡張されたプロダクトの機能範囲を反映したものです。
図 1. Artifact Analysis がソース、ビルド、ストレージ、デプロイ、ランタイムの各環境でメタデータを作成して操作する様子を示す図。
スキャンと分析
自動スキャン
- スキャン プロセスは、新しいイメージを Artifact Registry または Container Registry(非推奨)に push するたびに自動的にトリガーされます。脆弱性情報は、新しい脆弱性が発見されるたびに更新されます。Artifact Registry には、アプリケーション言語パッケージのスキャンが含まれています。使用を開始するには、自動スキャンを有効にします。
GKE ワークロードの脆弱性スキャン - スタンダード ティア
- GKE の [セキュリティ対策] ダッシュボードの一部として、ワークロード脆弱性スキャンは、コンテナ イメージの OS の脆弱性を検出します。スキャンは無料であり、クラスタごとに有効にできます。結果は、[セキュリティ対策] ダッシュボードで確認できます。
GKE ワークロードの脆弱性スキャン - 高度な脆弱性分析情報
- 基本的なコンテナ OS スキャンに加えて、高度な脆弱性分析情報にアップグレードすると、GKE ユーザーは継続的な言語パッケージの脆弱性検出を利用できます。クラスタでこの機能を手動で有効にする必要があります。有効にすると、OS と言語パッケージの脆弱性の結果を受け取ります。GKE ワークロードの脆弱性スキャンの詳細を確認する。
オンデマンド スキャン
- このサービスは継続的なものではありません。コマンドを実行して手動でスキャンを開始する必要があります。スキャン結果は、スキャンが完了してから最大 48 時間利用できます。脆弱性情報は、スキャンが終了すると更新されません。最初に Artifact Registry、Container Registry、GKE ランタイムに push することなく、ローカルに保存されているイメージをスキャンできます。詳細については、オンデマンド スキャンをご覧ください。
メタデータにアクセスする
Artifact Analysis は、Google Cloud リソースの構造化メタデータの保存と取得ができる Google Cloud インフラストラクチャ コンポーネントです。リリース プロセスのさまざまな段階で、アクティビティの結果を記述するメタデータを人の手や自動システムによって追加できます。たとえば、統合テストスイートまたは脆弱性スキャンに合格したことを示すメタデータをイメージに追加できます。
Artifact Analysis を CI / CD パイプラインに統合すると、そのメタデータに基づいて意思決定を行うことができます。たとえば、Binary Authorization を使用して、信頼できるレジストリからの準拠イメージに対してのみデプロイを許可するデプロイ ポリシーを作成できます。
Artifact Analysis は、メモとオカレンを使用してメタデータをイメージに関連付けます。これらのコンセプトの詳細については、メタデータ管理のページをご覧ください。
Artifact Analysis と Container Registry を併用している場合、両方のプロダクトで同じ Artifact Analysis API と Pub/Sub トピックが使用されます。ただし、Artifact Analysis の最新機能は Artifact Registry でのみ使用できます。詳細については、Container Registry からの移行方法をご覧ください。
Artifact Analysis 機能の費用については、Artifact Analysis の料金をご覧ください。
次のステップ
- 自動スキャンを使ってみる。
- オンデマンド スキャンの利用を開始する。
- 詳しくは、スキャンのコンセプトをご覧ください。
- 詳しくは、サポートされているメタデータの種類をご覧ください。